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      FWL – 2000 Metal

      Categoria

      Descrição Geral

      O  FWL 2000 Metal é um microscópio trinocular metalográfico avançado com luz transmitida e refletida, equipado com luz polarizada em ambas as técnicas. Desenvolvido especialmente para pesquisa científica e aplicações industriais de alta precisão.

      Principais Aplicações: Indústria de semicondutores, análise de polímeros, indústria eletrônica, indústria metalúrgica, pesquisa com polímeros e cerâmica, metalurgia avançada, bio-nanotecnologia, identificação e análise de FPD, encapsulamento de circuito, circuito de substrato, materiais, fundição, peças de cerâmica e moldes de precisão.

      Este instrumento adota ambos os tipos de iluminação (refletida e transmitida), campo claro e campo escuro, com possibilidade de adaptação futura à técnica DIC (Contraste de Interferência Diferencial). A polarização pode proceder de acordo com o reflexo da iluminação, e a observação de campo brilhante é feita sob luz transmitida halógena de alta qualidade (12V/100W), oferecendo um sistema óptico confiável que traz imagens muito mais nítidas e precisas. Seu projeto possui a ergonomia necessária para realizar o trabalho de forma relaxada.

      Descriçao do Produto

      Especificações Técnicas

      Componente Especificação detalhada
      Tubo Trinocular Com três estágios de possibilidade de passagem de luz (0%, 50% e 100%). Distância interpupilar de 48 a 76 mm.
      Oculares WF 10x/22mm; com retículo micrométrico em cruz para medição.
      Objetivas
      • 1 PL 5X / AN 0.17 (Campo claro – Luz transmitida)
      • 1 PL 10X / AN 0.31 (Campo claro e escuro – Luz transmitida / Refletida)
      • 1 PL 20X / AN 0.45 (Campo claro e escuro – Luz transmitida / Refletida)
      • 1 PL 50X / AN 0.75 (Campo claro – Luz transmitida)
      • 1 PL 100X / AN 0.90 (Campo claro a seco – Luz transmitida)
      Revólver Porta-Objetivas Quíntuplo reverso (3 alojamentos para campo claro e 2 alojamentos para campo escuro), com alojamento para prisma para a técnica DIC (Imagem de Interferência).
      Platina Mecânica retangular de 186 x 138 mm (Le Chatelier) com faixa de deslocamento de 76(X) x 52(Y) mm. Controle do lado direito, trava superior de segurança para evitar quebra de lâmina, porta-lâmina para 2 lâminas e escala vernier para leitura e posicionamento rápido da amostra. Foco fino de 0,002 mm com dispositivo para centralização da iluminação.
      Filtros Filtros azul e verde incorporados na base.
      Condensador Tipo ABBE com abertura numérica NA 1.25, parafusos de centralização para iluminação segundo Koehler e diafragma íris de abertura integrado (ilumina todo o campo de visão para todos os aumentos). Acompanha analisador giratório em 360°.
      Estativa Estativa básica com acabamento em pintura anticorrosiva. Comandos de focalização macro e micrométrico bilateral e coaxial, ajuste do torque de pressão de focalização, controle contra quebra de lâminas e iluminador embutido na base com lâmpada halógena de 12V/100W de alta durabilidade e alto brilho (com controle de intensidade e chave liga/desliga).

      Sistemas de Iluminação e Polarização

      • Iluminação Refletida: Halógena 12V/100W, AC 85V-230V, com ajuste de intensidade e brilho na base.
      • Iluminação Transmitida: Diafragma íris com lâmpada halógena de 24V/100W, AC 85V-230V, com controle de intensidade de brilho (Opcional: LED de longa duração de 50.000 horas com controle de intensidade de luz variável e escala indicadora).
      • Controle de Iluminação: Iluminação transmitida e refletida controladas individualmente com sistema Koehler. Possui abertura para colocação de filtros e conversão rápida de campo claro para campo escuro. Controle embutido na estativa permitindo ajuste contínuo da intensidade para operação em 220V – 60Hz.
      • Sistema de Polarização: Polarizador fixo incorporado na peça intermediária do epi-iluminador (Refletida) e analisador giratório em 360° incorporado embaixo do condensador.
      • Ferramenta de Calibração: Retículo micrométrico de 0.01mm.

      Acessórios Opcionais Suportados

      • Câmera de alta resolução / Software para análise de imagem FWL-DIGI 34MP.
      • Objetivas de longa distância de trabalho para campo claro, campo escuro, DIC e Nomarski: 40X, 50x/0.55, 80x/0.75 e 100x/0.90.
      • Ocular com retículo micrométrico e lâmina micrométrica para aferição das objetivas.
      • Adaptadores 0.5x e 0.75x para sistema de fotomicrografia.
      • Kits de DIC e Polarização (10x, 20x, 40x, 80x, 100x).
      • Platina com aquecimento e resfriamento controlada através de software.

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